Identifikacija naprav z branjem pokvarjenih celic

Markus Jakobsson za Security Week piše o novem načinu ugotavljanja in zagotavljanja istovetnosti elektronskih naprav, ki v principu preprečuje krajo identitete. Nov prstni odtis se nahaja v NAND-bliskovnih čipih (flash), ki jih dandanes v takšni ali drugačni izvedenki najdemo v skoraj vsej potrošni elektroniki.

Znano je, da imajo čipi napake in da se z rabo celice počasi kvarijo. Problem je za komercialno rabo že dovolj dobro rešen, tako da mehanizmi za popravljanje napak polovijo te napake, jih popravijo in okvarjene celice označijo kot neuporabne. Ideja je, da bi se pokvarjene celice uporabile za identifikacijo. Programska oprema bi določila nek sektor, v katerega bi namenoma tako dolgo pisala podatke in jih brisala, da bi zadostno število celic storilo konec. Ta sektor bi bil za zapis podatkov neprimeren.

Identifikacija bi se potem vršila takole. Programska oprema bi vse bite v sektorju postavila na 0, jih prebrala, nato jih postavila na 1 in spet prebrala. Dobljeni vzorec bo zaradi pokvarjenih celic unikaten in bi enolično identificiral komponento. In če bi nepridiprav identiteto pridobil, je zaradi fizičnih lastnosti bliskovnega pomnilnika ne bi mogel podvojiti.